вычислительные среды Архитектура и реализация -Львов АН УССР Физ механ ин т 1981 -С 34-36

119 Дешевые и быстродействующие цифроаналоговые преобразователи Электрони ка -1981 -№ 13 -С 72

120 Saul Р. Н., Werd Р. J., Fryers А. J. An 8-bit Monolithic D/A Converter Subsystem IEEE J-1980 -Vol SC 15, № 6 -P 1033-1039

121 Saul P. H. Monolithic 10 bit d/a Converter Avoids Postprocess Trimming Electronics-1984 -№ 12-P 144-146

122 Saul P. H., Urguart J. S. Techniques and Technology for Hihg-Speed Conversion lEEE Trans-1981 -Vol ED 31. № 2 -P 196-202

123 Ван де Пляше P. Интегральные преобразователи данных с динамическим согласованием элементов Электроника-1983-№ 12-С 54-60

124 Van de Plasshe R. J., Gordhart D. A Monolithic 14-bit d/a Converter IEEE J -1979 -Vol SC 14 -P 552-556

125 Van de Plasshe R. J. Dynamic Element Matching for High Accuracy Monolithic d/d Converter IEEE J -1976 -Vol SC 11, № 6 -P 795-800

126 Шоуф Д. Биполярный интегральный 12 разрядный ЦАП Электроника -1979 -№ 25 -С 51- 60

127 Виленски С. Высокочастотный ЦАП с дешифрацией старших разрядов Электроника-1980 -№ 13-С 41 - 47

128 LSI Products Division TRW Electronic Components Group, 1984-432 p

129 A Monolithic 8-bit a/d Converter with 120MHz Conversion Rate/M Inoue, H Sadamatsu, A Matsuzawa, A Kanda, T Takemoto lEEE J-1984 - Vol SC 19, № 6-P 837-840

130 De Graaf K. «A Silicon 400 MG/s 5 bit a/d Converter» Presented at Workshop on High Speed a/d Conversion, Portland, OR, Oct 1978

131 Маттера. Практика обеспечения надежности Электроника-1975-№ 21 - С 34-47

132 Отбраковочные испытания полупроводниковых приборов и ИС/А А Чернышев, В В Ведерников, А П Галеев и др Зарубежная электронная техника - 1977 -№ 7 -С 3-22

133 А.с 337722 СССР, GOlr 13/20 Стробоскопический осциллограф/Э А К Багданскис, А И Найденов-Опубл 1972, Бюл № 15

134 Багданскис Э.-А. К., Найденов А. И. Автоматическая установка амплитудного масштаба в стробоскопических осциллографах Радиоэлектроника Тр науч техн конференции - Каунас 1971-Т 7-С 283-286

135 Багданскис Э.-А. К., Найденов А. И. Автоматическая установка амплитудного масштаба в стробоскопических осциллографах Автометрия -1973 -№ 6 - С 58-66

136 А с. 477353 СССР GOlr 13/20 Стробоскопический осциллограф/Э А К Багдан скис -Опубл 1975, Бюл № 26

137 A.C. 439759 СССР, GOlr 13/34 Стробоскопический осциллограф/Э А К Баг данскис, А И Найденов -Опубл 1974, Бюл № 30

138 А.с. 418803 СССР, GOlr 13/20 Стробоскопический осциллограф/Э А К Баг данскис -Опубл 1974, Бюл № 9

139 А.С. 436285 СССР, GOlr 13/20 Стробоскопический осциллограф/Э А К Багданскис-Опубл 1974 Бюл №26

140 А.С. 410321 СССР, GOlr 13/00 Стробоскопический осциллограф/Э А К Багдан скис, А И Найденов-Опубл 1974, Бюл № 1

141 А.С. 838612 СССР, G01 R29/00 Устройство для определения динамических характеристик преобразователей/М М Гельман, А С Бондаревский Э А К Багданскис и др-Опубл 1981, Бюл № 22

142 Analog LSI Test/Trim Systems Catalog Solid State Techonology - 1979 September-P 44,45

143 Konde P. Laser Trimming of Automative Electronics Electronic Packaging and Production-1979 -October-P 75, 76

144 Лазерная технологическая установка для подгонки резисторов ИС/Г А Гатич, В В Зайка, В И Кравченко и др Электрон промсть-1984 -№ 4 - С 36-38

145 Lasertrimmingsystem mis 7032 Catalog mils -Munchen Technologiezentrum, 1986-S 12

146 Solartion Instruments Catalog Solartionschlumberger-Solartion, 1984-P 23

147 rest Equipment for Todays Linear Devices blectronic Packaging and Production-1980 -November-P 60-62

148 MIKl Messtechnik Automatischen Testsysteme fur Nachrichtentechnische und Analoge Prufungen Metrimpex-Budapest, 1986-S 64

149 Component Test Systems Analog Devices Product Catalog June, 1982, Models LTS 2000 -P 81

150 Ребане P.-В. П., Рюстери Э. А.-А. Система £101 для поверки АЦП и ЦВ Тез докл республ конф , посвященной Дню радио Системы реального времени/Эст НИИНТИ-Таллин 1980 -С 8-9

151 lest Dynamique des Convertisseurs «Analogique-numerique» Electronique - 1982-№ 4/3 -P 65-81

152 Souders Т., Lechner J. A Technique for Measuring the Equivalent RMS Input Noise ot A/D Con\erters» lEEE Trans-1980-Vol IM 29 № 4 -P 251-256

153 Установка функциональной подюнки АЦП по выходному коду/А И Диянов, С Б Кутыркин, В Л Полковов и др Тез докл к зональной конференции «Методы и средства аналого цифрового преобразования параметров электрических сигналов и цепей» -Пенза Приволж дом науч техн пропаганды 1985 -С 74

154 Лоранджер. Термотренировка компонентов и ее технико экономическая оценка Электроника -1975 -№ 2 -С 24-31

155 Лаймен Дж., Розенблат А. Пути и проблемы повышения качества и надеж ности полупроводниковых приборов и ИС Электроника -1981 -№ ю- С 27-45

156 Розенберг. Сокращение числа отказов и количественное определение надеж ности посредством ускоренных испытаний и тренировок Электроника -1980 - No 18-С 49-58

157 Data Conversion Electronic Wireless World-1986-March-Р 25-28

158 Data Conveгsюn ElectгoпlC Wireless World-1986-February-P 27-31

159 Fleming T. Analog/digital and digital/analog data converters EDN - 1986-May 29-P 102-124

160 Марцинкявичюс А.-Й К- Быстродействующие АЦП и ЦАП для обработки широкополосных сигнатов/Электрон пром сть-1986 -№ 10-С 5-6

161 Александравичюс И. А., Марцинкявичюс А.-Й. К., Матузонис Ч. Ю. Быстродействующий 10-разрядный ЦАП КР118ПА2 Электрон пром сть-1986 - № 10-С 8-10

162 Басин В. М., Марцинкявичюс А.-Й. К., Ясулайтис Д. Ю. Сверхбыстродействующий 8-разрядный АЦП К1107ПВ4 с частотой преобразования 100 МГц Электрон пром-сть-1986 -№ 10-С 113-115

163 Багданскис Э.-А. К., Груздас Р. Й., Квядарас В. Ю. Тестер для измерения динамических параметров ЦАП Электрон пром сть -1986 -М« 10-С 27-28

164 Багданскис Э.-А. К., Кайрялис В. Й., Мисеркеев Г. М. Тестер для измерения динамических параметров сверхбыстродействующих АЦП Электрон пром сть -1986 -№ 10 -С 26-29

165 Лабораторный измеритель времени установления быстродействующих АЦП/ Э А К Багданскис, В Б Квядарас, С Ф Мацкевич, В А Скурдянис Электрон пром сть-1986-№ 10-С 30

Оглавление

Предисловие ........................3

Глава 1. Особенности построения быстродействующих микросхем ЦАП, АЦП и

аппаратуры для измерения их электрических параметров........5

1.1. Особенности построения и конструктивное исполнение ЦАП (5). 1.2. Особенности построения и конструктивное исполнение АЦП (7) 1.3. Особенности построения аппаратуры для измерения электрических параметров ЦАП и АЦП (11)

Глава 2. Параметры микросхем ЦАП, АЦП и их определения .... 12

2.1. Общие понятия (12) 2.2. Статические параметры ЦАП (13) 2.3. Динамические параметры ЦАП (18) 2.4. Статические параметры АЦП (20) 2.5. Динамические параметры АЦП (24)

Глава 3. Схемы построения и электрические характеристики микросхем ЦАП 30

3.1. Двенадцатиразрядный ЦАП К594ПА1 с временем установления 3,5 мкс (30)

3.2. Десятиразрядные ЦАП КМ1118ПА2, KPI 118ПА2 с временем установления 50 не (37) 3.3. Восьмиразрядные ЦАП К1118ПА1, КМ1118ПА1 с временем установления 20 НС (47). 3.4. Восьмиразрядный ЦАП К1118ПАЗ с временем установления 10 не (56)

Глава 4 . Схемы построения и электрические характеристики микросхем АЦП 60 4.1. Шестиразрядный АЦП К1107ПВ1 с частотой преобразования 20 Ml ц (60) 4.2. Шестиразрядные АЦП К1107ПВЗ с частотой преобразования 100 и 50 МГц (80) 4.3. Восьмиразрядный АЦП К1107ПВ2 с частотой преобразования 20 МГц (90) 4.4. Восьмиразрядные АЦП К1107ПВ4 с частотой преобразования 100 и 60 МГц (97)

Глава 5. Методы и аппаратура для измерения статических и динамических параметров, микросхем ЦАП 100

5.1. Методы измерения статических параметров ЦАП (100) 5.2. Аппаратура для измерения статических параметров ЦАП (106) 5.3. Методы измерения динамическихпараметров ЦАП (112) 5.4. Аппаратура для измерения времени установления ЦАП (117) 5.5. Схемы включения ЦАП К594ПА1, К1118ПА1, К1118ПА2, К118ПАЗ, К1118ПА4 при измерении времени установления и особенности их конструктивного исполнения (132)

Глава 6. Методы и аппаратура для измерения статических и динамических параметров микросхем АЦП 137

6.1. Методы измерения статических параметров АЦП (137) 6.2. Аппаратура для измерения статических параметров АЦП (142) 6.3. Методы измерения и принципы построения измерителей динамических параметров АЦП (143). 6.4. Аппаратура для измерения динамических параметров АЦП (153) 6.5. Схемы включения ИС АЦП К1107 при измерении динамических параметров и особенности их конструктивного исполнения (162)

Глава 7. Основные функциональные узлы измерителей динамических параметров

микросхем ЦАП и АЦП...................166

7.1. Измерители временных интервалов (166) 7.2. Контактирующие головки для измерения динамических параметров ИС (172) 7.3. Генераторы тестовых импульсов (177) 7.4. Корпуса для ИС и их паразитные конструктивные параметры (181) 7.5. Усилители выходных сигналов ЦАП (183) 7.6. Адаптерные платы (185)

Глава 8 . Особенности измерения и аппаратуры для контроля электрических параметров микросхем ЦАП и АЦП в процессе их изготовления.....187

8.1. Контроль на пластинах (187) 8.2. Функциональная подгонка (190) 8.3. Контроль и измерение параметров ИС в диапазоне температур (192) 8.4. Электротермотренировка (194)

Глава 9. Перспективы развития быстродействующих микросхем ЦАП, АЦП и измерение их параметров 197

9.1. Пути увеличения быстродействия и разрядности АЦП (197) 9.2. Пути увеличения быстродействия и разрядности ЦАП (208) 9.3. Пути увеличения точности и щирокополосности измерителей электрических параметров ЦАП и АЦП (209)